новый подход в изготовлении пластинок Lamella электронная микроскопия

Привет, любители электронной микроскопии! Не так давно я представил новый (для меня) подход к подготовке ламелл методом двойного FIB/SEM, при котором ламелла крепится к боковой стороне стойки сетки, а затем на одной из граней ламеллы вырезается «стабилизирующая планка»; эта планка имеет толщину от нескольких сотен нанометров до 1 мкм и предотвращает деформацию (или изгиб) электронно-прозрачной части ламеллы по мере её истончения. Если вы ещё не видели этот момент, вы можете посмотреть его ещё раз здесь: