Микрофокусная система рентгеновского контроля печатных плат и компонентов SEC X-eye SF160FCT

SEC X-eye SF160FCT — это микрофокусная рентгеновская система высокого разрешения для контроля сборки ПП, контроля производства полупроводников, ПП и электронных компонентов. Благодаря превосходной рентгеновской визуализации можно обнаруживать скрытые дефекты микроскопических размеров с высоким разрешением. SF160FCT оснащён открытой микрофокусной трубкой на 160 кВ с размером пятна 0,9 мкм. Система может увеличивать объект в 4800 раз и отображать рентгеновское изображение под любым углом с помощью 6-осевого манипулятора. Система применяется в следующих технологиях: 1. Контроль сборки печатных плат. Дефекты: BGA, CSP — дефекты, холодная пайка, замыкание, пустота (автоматический расчёт площади пустот). 2. Полупроводниковая. Светодиодная, корпусирование элементов. Дефекты: обрыв провода, поднятый провод, заусенец наплыв, расслоение рисунка, пустота, трещина 3D-монтаж — MCP, TSV, микродефект FCB 3. Производство многослойных ПП. Дефекты: перемычки, слепое переходное отверстие, расположение переходных отверстий, качество медных проводников. Контроль гибких переход между ПП. 4. Контроль электронных компонентов. Дефекты: пайка разъемов, крепления компонентов внутри, КЗ, внутреннее загрязнение.