Компания i3D на выставке Testing&Control

Аватар автора
i3D
С 21 по 23 октября в Москве прошла выставка Testing&Control, посвящённая испытательному и контрольно-измерительному оборудованию. Компания i3D представила на своём стенде 3D-сканер AM.TECH SIMSCAN E и портативную систему 3D-сканирования AM.TECH NimbleTrack C.

0/0


0/0

0/0

0/0