С.П. Кулик "Абсолютная квантовая фотометрия "

Разработка эталонов физических величин, основанных на фундаментальных законах физики, является актуальной проблемой современной метрологии. В частности, разработкой таких эталонов для фотометрических характеристик, основанных на закономерностях квантовой механики, занимается квантовая фотометрия – сравнительно молодое междисциплинарное направление метрологии. В основе схем высокоточных квантовых оптических измерений, широко применяющихся также в современных квантовых оптических информационных технологиях, лежит квантовая N-фотонная интерференция В докладе рассматриваются физические принципы квантовой интерферометрии, которые лежат в основе нового направления метрологии – абсолютной квантовой фотометрии. Речь идет о двух методах, основанных на спонтанном параметрическом рассеянии (СПР) света – нелинейно-оптическом процессе, в котором на выходе кристалла, обладающего квадратичной восприимчивостью, образуются пары фотонов. 1. Метод абсолютной калибровки однофотонных фотодетекторов основан на том, что нелинейный кристалл, в котором происходит процесс СПР, излучает фотоны парами: это значит, что число испущенных фотонов в моды «s» и «i» равно общему числу пар – бифотонов N (например, N пар в секунду) 2. Метод абсолютной калибровки спектральной яркости источников излучения основан на соотношении, описывающем интенсивность излучения в сигнальной моде СПР в терминах числа фотонов на моду - т.е. спектральной яркости излучения. Оба метода являются абсолютными, т.е. не требующими...